国家技术发明奖 · 2010年 · 二等奖
光学元件内应力、双折射和光学波片相位延迟测量的新原理和仪器是一项具有重要科学价值和应用意义的研究成果,在相关领域取得了突破性进展,为我国科技创新和社会发展作出了重要贡献。